其他產(chǎn)品及廠家
各規(guī)格型號(hào)磁盤：電磁吸盤，加工中心強(qiáng)力吸盤,磨床永磁吸盤，雕刻機(jī)細(xì)目永磁 吸盤，火花機(jī)磁盤，線切割磁盤，磨刀機(jī)專業(yè)磁盤，一體正弦臺(tái)，彎弓正弦臺(tái)，雙傾正弦臺(tái)，旋轉(zhuǎn)磁臺(tái)，直角磁臺(tái)，圓形吸盤，紅銅.黃銅永磁吸盤，雙面永磁吸盤，導(dǎo)磁塊等……機(jī)床精密配件.定做非標(biāo)吸盤
更新時(shí)間:2025-04-28
陰極保護(hù)監(jiān)測(cè)儀sd-21用于測(cè)量陰極電位溢出，從而預(yù)防埋地燃?xì)夤艿赖母g。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無(wú)誤的測(cè)量出來(lái)。是世界上首款同時(shí)設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-04-27
過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式，可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱性膜，非對(duì)稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-04-27
自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式，可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱性膜，非對(duì)稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-04-27
全自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式，可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱性膜，非對(duì)稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-04-27
便攜式過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式，可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱性膜，非對(duì)稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-04-27
濾芯完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式，可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱性膜，非對(duì)稱性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能，并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-04-27
廣泛應(yīng)用于電力、鋼鐵、石化、節(jié)能行業(yè)，風(fēng)速計(jì)都需要用到風(fēng)速儀來(lái)測(cè)量。有很多行業(yè)都需要用到風(fēng)速儀，推薦使用的行業(yè)：出海、各類風(fēng)扇制造業(yè)、需要抽風(fēng)排氣系統(tǒng)的行業(yè)等。
更新時(shí)間:2025-04-27
風(fēng)速/風(fēng)量/風(fēng)溫測(cè)量多種風(fēng)速單位自由換算風(fēng)速平均值模式空氣流量平均值模式數(shù)據(jù)保持功能大/小值保持雙顯示帶白色背光自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
更新時(shí)間:2025-04-27
多種單位自由換算，輕松測(cè)量風(fēng)速、風(fēng)量和風(fēng)溫。內(nèi)置usb接口可將數(shù)據(jù)快速便捷地傳送到電腦。具有紅外溫度測(cè)量功能,可廣泛應(yīng)用于科研實(shí)驗(yàn)、環(huán)保監(jiān)測(cè)、海上作業(yè)、飛行作業(yè)、各類風(fēng)扇制造業(yè)、通風(fēng)、空調(diào)系統(tǒng)等領(lǐng)域。
更新時(shí)間:2025-04-27
華盛昌dt-859b多功能環(huán)境測(cè)試表cem dt-859b是cem推出的一款噪音、照度、風(fēng)速、溫度、濕度于一體的五合一多功能環(huán)境測(cè)試儀表。
更新時(shí)間:2025-04-27
華盛昌dt620多功能紅外測(cè)溫風(fēng)速儀dt-620（風(fēng)速、紅外測(cè)風(fēng)溫、風(fēng)量）
更新時(shí)間:2025-04-27
量程:0.2-300m精度(mm):±（1.0mm+5×10-5d）單次測(cè)量:有連續(xù)測(cè)量:有面積測(cè)量:有體積測(cè)量:有一次勾股:有二次勾股①:有二次勾股②:有自動(dòng)水平:有自動(dòng)垂直:有空間兩點(diǎn)測(cè)距:有
更新時(shí)間:2025-04-27
型號(hào)：glm50-23g激光類型：綠光測(cè)量范圍：0.05-50m測(cè)量精度：±1.5mm測(cè)量角度范圍：0-360°測(cè)量角度精度：±0.2°
更新時(shí)間:2025-04-27
激光顏色：綠色測(cè)量范圍：0.05–50米測(cè)量時(shí)間：< 0.5秒測(cè)量單位：m/cm，ft/inch激光二極管：515 nm，< 1 mw激光級(jí)別：2級(jí)
更新時(shí)間:2025-04-27
數(shù)字式取景器：有激光顏色：紅色測(cè)量時(shí)間：< 0.5秒測(cè)量單位：m/cm，ft/inch激光二極管：650 nm，< 1 mw測(cè)量范圍：0.08–100米激光級(jí)別：2級(jí)測(cè)量精度：±1.5mm傾角測(cè)量范圍：0–360°
更新時(shí)間:2025-04-27
目標(biāo)模式：標(biāo)準(zhǔn)、近距、遠(yuǎn)距、連續(xù)和過(guò)濾（要求使用反射器和樹葉過(guò)濾器）模式。 可進(jìn)行空間三維對(duì)邊測(cè)量,測(cè)跨距對(duì)空間中任意不可見兩點(diǎn)之間的直線距離(sd)/水平距(hd)/垂直距(vd)/傾斜角(inc)(或坡度)/方位角(az)等參數(shù)可直接測(cè)量并讀取數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2025-04-27
徠卡d2激光測(cè)距儀的產(chǎn)品特點(diǎn):手持小巧使用簡(jiǎn)單；內(nèi)置智能藍(lán)牙擴(kuò)展功能快速距離、面積、加減、體積的計(jì)算測(cè)量的好幫手具有可拆卸口袋夾，便于攜帶
更新時(shí)間:2025-04-27
測(cè)量精度：±1毫米測(cè)量范圍：0.05-300米計(jì)量單位：米，英尺，英寸激光點(diǎn)的直徑：10，50，100米 6，30，60毫米顯示單位：0.1mm/1/32in傾斜傳感器的測(cè)量范圍：360°pointfinder，支持4倍變焦：有概述相機(jī)：有
更新時(shí)間:2025-04-27
測(cè)量精度：1mm測(cè)量范圍：0.05-150m顯示單位：0.1mm/1/32in軟件：有激光類型：635nm<1mw 激光點(diǎn)|距離：6/30/60mm|10/50/100m
更新時(shí)間:2025-04-27
型號(hào)：徠卡disto one應(yīng)用：拆遷丈量、家具定制、窗戶安裝、室內(nèi)布置、建筑施工、裝修設(shè)計(jì)、點(diǎn)距離測(cè)距、高度測(cè)量測(cè)量范圍：0.05~20m測(cè)量精度：±1.5mm
更新時(shí)間:2025-04-27
徠卡disto d1簡(jiǎn)約設(shè)計(jì)、小巧實(shí)用徠卡disto d1是徠卡小型手持激光測(cè)距儀，簡(jiǎn)約的機(jī)身設(shè)計(jì)、質(zhì)感體驗(yàn)，黑紅搭配，40m測(cè)程，±2mm測(cè)量精度。產(chǎn)品特點(diǎn)：測(cè)距范圍: 0.2-40m測(cè)距精度: ±2mm
更新時(shí)間:2025-04-27
測(cè)量精度：±1.5mm測(cè)量范圍：0.2-60m測(cè)量單位：m、ft、inpowerrangetechnology：是屏幕照片：是免費(fèi)應(yīng)用程序：是數(shù)據(jù)接口：智能藍(lán)牙
更新時(shí)間:2025-04-27
型號(hào) pd-e測(cè)量范圍 0.001–200m測(cè)量精度±1.0mm傾角范圍360°水平傾角精度±0.2°
更新時(shí)間:2025-04-27
單通測(cè)距儀模式，性能更穩(wěn)定。筆型外觀，輕巧便攜簡(jiǎn)單易用：簡(jiǎn)化的鍵盤-直觀易用外觀設(shè)計(jì)小巧：緊密設(shè)計(jì)適合每個(gè)袋口堅(jiān)固可在困難的工地環(huán)境中使用防土渣、防塵和防水花：防塵、防射水、工程橡膠保護(hù)背光顯示照明，即使在黑暗環(huán)境中也能閱讀測(cè)量結(jié)果
更新時(shí)間:2025-04-27
型號(hào) pd-i 測(cè)量范圍 0.05-100m測(cè)量精度±1.5mm測(cè)量速度 (連續(xù)測(cè)量)單次及持續(xù)測(cè)量電池2x1.5v(aaa)操作溫度-10℃到50℃防護(hù)等級(jí)ip65
更新時(shí)間:2025-04-27
型號(hào)：ildm-150h/ildm-160h量程：150米/160米測(cè)量精度：±1.5mm顯示精度：1mm測(cè)量單位：米、英寸、英尺
更新時(shí)間:2025-04-27
溫度：-20 °c 至 60 °c溫度精度：±0.5 °c分辨率：0.1 °c / 0.1 °f溫度更新速率：500 ms溫度傳感器類型：ntc相對(duì)濕度范圍：5%至95% rh
更新時(shí)間:2025-04-27
emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2025-04-27
emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過(guò)大的問(wèn)題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-04-27
emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
更新時(shí)間:2025-04-27
emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問(wèn)題。我們通過(guò)使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2025-04-27
emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上，中心導(dǎo)體通過(guò)個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2025-04-27
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來(lái)說(shuō)，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2025-04-27
emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2025-04-27
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2025-04-27
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過(guò)發(fā)cmd的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問(wèn)。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2025-04-27
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問(wèn)題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2025-04-27
emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:2025-04-27
相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 , emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試
更新時(shí)間:2025-04-27
相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號(hào)相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過(guò)程。
更新時(shí)間:2025-04-27
相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試
更新時(shí)間:2025-04-27
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試
更新時(shí)間:2025-04-27
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào)，并開始接收 response。
更新時(shí)間:2025-04-27
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào)，并開始接收 response。
更新時(shí)間:2025-04-27
clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試，眼圖測(cè)試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:2025-04-27
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試在 ddr 模式下，data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時(shí)間:2025-04-27
復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí)，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測(cè)試過(guò)程（bus testing procedure），測(cè)試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2025-04-27
遇到的問(wèn)題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2025-04-27
cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-04-27
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- 植物膽色素原脫氨酶（PBGD）ELISA試劑盒 2025/4/29 22:06:54
- 植物δ丙酸脫水酶（ALAD）ELISA試劑盒 2025/4/29 22:05:11
- 植物葉黃素（Lutein）ELISA試劑盒 2025/4/29 22:03:54
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- 植物葉綠素（chlorophyll）ELISA試劑盒 2025/4/29 22:01:02
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